在近期举办的中国光博会上，一款名为ADM-100的超景深数码显微镜引发行业关注。这款由瑞声科技旗下DEPTRA品牌自主研发的设备，凭借光学硬件、智能算法与操控系统的全链路创新，为半导体、新能源、3C电子及材料科研等领域提供了微观检测的全新解决方案，直击传统设备在景深、效率与反光观测等方面的核心痛点。
ADM-100的核心光学性能突破传统显微镜的局限。其18X至9000X的超高倍率覆盖范围，搭配高数值孔径（NA）复消色差物镜与全系远心光路设计，从根源上消除了透视畸变问题。设备采用的1241万像素CMOS传感器可输出4K超高清图像，而全倍率齐焦技术则确保在倍率切换时被测样品始终保持清晰，无需反复调焦。针对三维工件的高低落差难题，其深度合成算法可自动生成全幅清晰图像，解决了传统设备景深不足导致的成像不完整问题。
智能化功能是该设备的另一大亮点。内置的全自研AI视觉模块通过少量标准样本训练后，即可实现批量缺陷识别、PCB板特征定位及几何尺寸测量等功能。例如，在电子元件检测中，AI可秒级定位同类特征，将人工筛查效率提升数倍。设备配备的0.1μm级高精度电动载物台支持像素级无缝拼接，配合四分区可调照明系统与智能去反光算法，能清晰还原芯片引脚、金属焊点等高反光表面的微观细节，HDR高动态成像技术进一步增强了图像的层次感。
在测量维度上，ADM-100实现了2D与3D功能的深度融合。其集成14种基础2D测量工具与13种3D测量模块，覆盖清洁度检测、粗糙度分析等专业场景，并支持跨视野大跨度尺寸测量。这种全维测量能力使其既能满足晶圆检测、3C零部件质检等工业场景的高精度需求，也能支撑纳米科技、物证鉴定等科研领域的复杂观测任务。
展会现场的真机体验区吸引了众多专业观众。据现场负责人介绍，ADM-100的核心性能已达到国际一线产品水平，但凭借更短的交付周期、灵活的定制化服务及快速响应的本土化售后，在综合成本上具备显著优势。这款设备的推出，不仅为国内制造企业提供了检测设备自主可控的可行路径，也为科研机构突破高端检测技术瓶颈提供了有力支持，有望推动相关产业检测能力的整体升级。
